2025-03-10
■ 要高精度地測(cè)量低電阻時(shí)，連接測(cè)量儀器與探頭的配線電阻、探頭與被測(cè)對(duì)象之間產(chǎn)生的接觸電阻成為最大的障礙。
■ 配線電阻會(huì)因粗細(xì)或長度而有很大差異。比如，用于電阻測(cè)量的電纜，AWG24(0.2平方)約為90 mΩ/m、AWG18 (0.75平方)約為 24 mΩ/m。接觸電阻在很大程度上受探頭磨損狀態(tài)、接觸壓力或測(cè)量電流的影響。即使在接觸良好的狀態(tài)下也有數(shù) mΩ，有時(shí)也會(huì)達(dá)到數(shù) Ω。
■ 因此，為了可靠地測(cè)量較小電阻，采用4端子測(cè)試法。
■ 采用2端子測(cè)量時(shí)(圖 1)，測(cè)試線自身的導(dǎo)體電阻會(huì)被加算到被測(cè)對(duì)象電阻上，從而造成誤差。
■ 4 端子測(cè)量 (圖 2)采用的是供給恒電流的電流源端子 (SOURCE A、 SOURCE B)與檢測(cè)電壓下降的電壓檢測(cè)端子(SENSE A、 SENSE B)的結(jié)構(gòu)。
■ 由于電壓計(jì)的輸入阻抗較高，因此與被測(cè)對(duì)象連接的電壓檢測(cè)端子側(cè)導(dǎo)線幾乎不會(huì)流過電流。這樣就可進(jìn)行準(zhǔn)確的測(cè)量，而不會(huì)受到測(cè)試線電阻或接觸電阻的影響。
圖1 使用2端子測(cè)試法測(cè)量 圖2使用4端子測(cè)試法測(cè)量
電流I流入被測(cè)電阻 R0、配線電阻r1、r2中。 電流I從r2經(jīng)被測(cè)電阻R0流入r1中。由于電壓計(jì)的輸入電阻較大，
因此，要測(cè)量的電壓由下式E=I(r1+R0+r2)求出， 因此電流不流入r3、r4中。這樣的話，r3和r4的電壓下降為0。
為包括配線電阻r1、r2的值。 要測(cè)量的電壓E與被測(cè)電阻 R0兩端的電壓下降E0相等，
因此，測(cè)量電阻時(shí)不會(huì)受到r1~r4的影響。
